三.功能与参数测试 1.对器件的检测,仅能反应出截止区,放大区和饱和区.但不 能测出工作频率的高低和速度的快慢等具体数值等. 2.同理对TTL数字芯片而言,也只能知道有高低电平的输出变化.而无 法查出它的上升与下降沿的速度.
一.带程序的芯片 1.EPROM芯片一般不宜损坏.因这种芯片需要紫外光才能擦除掉程序, 故在测试中不会损坏程序.但有资料介绍:因制作芯片的材料所致,随着 时间的推移(年头长了),即便不用也有可能损坏(主要指程序).所以要 尽可能给以备份. 2.EEPROM,SPROM等以及带电池的RAM芯片,均极易破坏程序.这类芯片 是否在使用进行VI曲线扫描后,是否就破坏了程序,还未有定 论.尽管如此,同仁们在遇到这种情况时,还是小心为妙.笔者曾经做过 多次试验,可能大的原因是:检修工具(如测试仪,电烙铁等)的外壳漏电 所致. 3.对于电路板上带有电池的芯片不要轻易将其从板上拆下来.
A-CANOR/B
A-CNR
A-DH485R/B
A-DNTR
A-J1939R
A-PAL/B
A-TSMB
A-XGPS
PS-QS-1011-0131
PS-QS-1011-0154
PS-QS-1011-0783
PS-QS-1211-0131
PS-QS-1511-0154
PS-QS-1511-0783
PS-QS-2010-F
PS-QS-2110-F
PS-QS-2210-F
PS-QS-3010-F
PS-QS-3110-F
PS-QS-3210-F
AN-X-AMX
AN-X-PB
AN-X-TI
WRC-CANR-DF-DN
WRC-CANR-DF-SM
WRC-CANR-MTGKIT
WRC-CANX-DIN-DN
WRC-CANX-NEM-DN
SDI-1G
5102-DFS3-DFM
5102-MBS3-MBM
5102-MCM4-DFCM4
5105-DNPS-PDPS
5127-MCM-HART
5201-DFNT-104C
5201-DFNT-EGD可靠性高,抗干扰能力强
高可靠性是电气控制设备的关键性能。PLC由于采用现代大规模集成电路技术,采用严格的生产工艺制造,内部电路采取了先进的抗干扰技术,具有很高的可靠性。使用PLC构成控制系统,和同等规模的继电接触器系统相比,电气接线及开关接点已减少到数百甚至数千分之一,故障也就大大降低。此外,PLC带有硬件故障自我检测功能,出现故障时可及时发出警报信息。在应用软件中,应用者还可以编入外围器件的故障自诊断程序,使系统中除PLC以外的电路及设备也获得故障自诊断保护。这样,整个系统将极高的可靠性